Baza KonkurencyjnościZnak: 2026-37426-287974
Dostawa fabrycznie nowych materiałów (akcesoriów) do przygotowywania próbek do charakteryzacji metodą transmisyjnej mikroskopii elektronowej (TEM)
Instytut Wysokich Ciśnień Polskiej Akademii Nauk, Warszawa (mazowieckie)
- Rodzaj zamówienia
- Dostawy
- Tryb
- Zasada konkurencyjności (poza ustawą Pzp)
- Wartość szacunkowa
- 37 000 zł10 tys.100 tys.1 mln10 mln100 mln
- Wadium
- brak informacji
- Okres realizacji
- —
- Opublikowano
- 2 paź 2026
- Zaktualizowano
- 2 paź 2026, 12:01
- Środki UE
- tak
Przedmiot zamówienia
Przedmiotem zamówienia jest dostawa fabrycznie nowych materiałów (akcesoriów) do przygotowywania próbek do charakteryzacji metodą transmisyjnej mikroskopii elektronowej (TEM): 1) uchwyt zaciskowy typu DuoPost 3 mm do mocowania próbek TEM w pocieniarce jonowej – 3 sztuki; 2) przepust wysokiego napięcia do działa jonowego systemu Gatan PIPS (pocieniarki jonowej do przygotowywania próbek TEM) – 1 szt
Kryteria oceny ofert
| Kryterium | Waga |
|---|---|
| Przy wyborze oferty najkorzystniejszej Zamawiający będzie kierował się następującymi kryteriami, z przypisaniem im odpowiednio wag: Kryterium Cena oferty brutto (KC) Waga kryterium 100% | — |
Kody CPV
- 38511000-0Mikroskopy elektronowegłówny
Gdzie złożyć ofertę
Platformabazakonkurencyjnosci.funduszeeuropejskie.gov.pl
Oferty składa się przez Bazę Konkurencyjności albo w sposób wskazany w ogłoszeniu.
Treść ogłoszenia
Pokaż pełną treść ogłoszenia
Przedmiotem zamówienia jest dostawa fabrycznie nowych materiałów (akcesoriów) do przygotowywania próbek do charakteryzacji metodą transmisyjnej mikroskopii elektronowej (TEM):
1) uchwyt zaciskowy typu DuoPost 3 mm do mocowania próbek TEM w pocieniarce jonowej – 3 sztuki;
2) przepust wysokiego napięcia do działa jonowego systemu Gatan PIPS (pocieniarki jonowej do przygotowywania próbek TEM) – 1 szt