TED 644417-2026
Wymiana starych komponentów oraz rozbudowa wyposażenia mikroskopu AFM Bruker Dimension Icon na potrzeby Wydziału Chemii UW z podziałem na 2 części
Uniwersytet Warszawski, Warszawa (mazowieckie)
- Rodzaj zamówienia
- Dostawy
- Tryb
- Przetarg nieograniczony
- Wartość szacunkowa
- nie podanowartość nieznana
- Wadium
- niewymagane
- Okres realizacji
- —
- Opublikowano
- 18 wrz 2026
- Zaktualizowano
- 18 wrz 2026, 01:01
Przedmiot zamówienia
1. Zamówienie zostało podzielone na części. Zamawiający dopuszcza możliwość składania ofert częściowych. Wykonawca może złożyć ofertę na jedną lub więcej części zamówienia. Część 1: Dostawa kontrolera, oprogramowania, komputera sterującego, monitora oraz nowej głowicy skanującej Część 2: Dostawa kontrolera wilgotności 2. Zaoferowane urządzenia muszą być fabrycznie nowe, nieużywane oraz muszą posia
Kody CPV
- 38510000-3Mikroskopygłówny
- 38519000-6Różne kompozycje do mikroskopów
- 38930000-3Przyrządy do pomiaru wilgoci i wilgotności
Gdzie złożyć ofertę
Platformae-Zamówienia (UZP)
https://ezamowienia.gov.pl/mp-client/tenders/ocds-148610-026b96b8-1103-4080-95ef-343fb7c29c95
Treść ogłoszenia
Pokaż pełną treść ogłoszenia
Wymiana starych komponentów oraz rozbudowa wyposażenia mikroskopu AFM Bruker Dimension Icon na potrzeby Wydziału Chemii UW z podziałem na 2 części
1. Zamówienie zostało podzielone na części. Zamawiający dopuszcza możliwość składania ofert częściowych. Wykonawca może złożyć ofertę na jedną lub więcej części zamówienia. Część 1: Dostawa kontrolera, oprogramowania, komputera sterującego, monitora oraz nowej głowicy skanującej Część 2: Dostawa kontrolera wilgotności 2. Zaoferowane urządzenia muszą być fabrycznie nowe, nieużywane oraz muszą posiadać okablowanie do uruchomienia urządzenia. 3. Wymiana starych komponentów oraz rozbudowa wyposażenia mikroskopu AFM Bruker Dimension Icon odbędzie się w Centrum Nauk Biologiczno-Chemicznych, Żwirki i Wigury 101, pokój 4.25, 02-089 Warszawa
Dostawa kontrolera, oprogramowania, komputera sterującego, monitora oraz nowej głowicy skanującej
Dostawa kontrolera wilgotności